Analysis of the degradation of amorphous Si mini-modules under a severe sequential UV/DH test - Université Paris-Est-Créteil-Val-de-Marne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Analysis of the degradation of amorphous Si mini-modules under a severe sequential UV/DH test

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Physique [physics]

Ali KHOUZAM  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.u-pec.fr/hal-04277449

Soumis le : jeudi 9 novembre 2023-14:55:41

Dernière modification le : vendredi 10 novembre 2023-03:24:01

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04277449 , version 1 (09-11-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04277449 , version 1

Citer

Julia Vincent, Venkata Ramana Posa, Ali Khouzam, Mustapha Elyaakoubi, Anne Labouret, et al.. Analysis of the degradation of amorphous Si mini-modules under a severe sequential UV/DH test. Journées Nationales du PhotoVoltaïque, JNPV 2022, Nov 2022, Dourdan, France. ⟨hal-04277449⟩

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